inTEST 半導體芯片高低溫測試
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inTEST 半導體芯片高低溫測試

inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機應用于半導體芯片溫度測試

上海伯東 inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest,泰瑞達 teradyne,惠瑞捷 verigy 工程機聯用,進行半導體芯片高低溫測試。半導體芯片溫度測試主要是做芯片的溫度沖擊和溫度循環測試。
上海伯東客戶某國際半導體廠商選用 inTEST-Temptronic thermostream ATS-710-M 高速溫度測試機,

inTEST-Temptronic  ATS-710-M 提供循環測試溫度:-80°C 至 +225°C,每秒可快速升溫/降溫 18 °C,成功完成芯片的高低溫循環測試,疲勞失效測試。上海伯東作為 inTEST 中國地區總代理,全權負責其新品銷售和售后維修服務。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode,溫度顯示精度:±1°C (通過美國國家標準與技術研究院 NIST 校準) ,不需要液態氮氣 (N2) 或液態二氧化碳 (CO2)冷卻。
鑒于信息保密,更詳細的 Temptronic thermostream 半導體芯片溫度測試應用案例,歡迎撥打客服熱線:021-5046-3511

Temptronic thermostream 高低溫測試機
上海伯東客戶現場圖片:
inTEST

inTEST-ATS-710-M-7
inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收購,成為在美國設立的超高速溫度環境測試機的首家制造商。而 Thermonics 創立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收購,使 inTEST 更強化高低溫循環測試以及溫度沖擊測試領域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發技術發展出獨創的溫度環境測試機,將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環境測試系列產品。上海伯東作為 inTEST 中國總代理,全權負責  inTEST 新品銷售和售后維修服務
 

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